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DIN EN 60749-27 : 2013现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 27: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING - MACHINE MODEL (MM) (IEC 60749-27:2006+A1:2012)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

标准编号： DIN EN 60749-27 : 2013

标准类别：Standard

出版单位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

标准页数：0

等同采用的国际标准

BS EN 60749-27 : 2006 - Identical

I.S. EN 60749-27:2006 - Identical

IEC 60749-27 : 2.1 - Identical

NF EN 60749-27 : 2006 AMD 1 2013 - Identical

NBN EN 60749-27 : 2007 AMD 1 2012 - Identical