DS EN 60749-18:2003现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 18: Ionizing Radiation (Total Dose)
出版：Danish Standards
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基本信息
标准编号： DS EN 60749-18:2003
发布时间：2003/5/9 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Danish Standards
标准页数：24
标准简介
Specifies a test procedure for defining requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionizing radiation (total dose) effects from a cobalt-60 ([60]Co) gamma ray source.
替代本标准的新标准
等同采用的国际标准
IEC 60749-18 : 1.0 - Identical
EN 60749-18 : 2003 - Identical
EN 60749-18:2003 - Identical
