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OVE/ONORM EN 60749-20:2004被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 20: Resistance Of Plastic-encapsulated Smds To The Combined Effect Of Moisture And Soldering Heat

出版：Osterreichisches Normungsinstitut

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基本信息

标准编号： OVE/ONORM EN 60749-20:2004

发布时间：2004/1/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Osterreichisches Normungsinstitut

标准页数：25

标准简介

2004 [01/01/2004]

替代本标准的新标准

OVE/ONORM EN 60749-20:2010

等同采用的国际标准

EN 60749-20:2009 - Identical

IEC 60749-20 Ed. 1.0 - Identical

OVE/ONORM EN 60749-20:2004被替代

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