OVE/ONORM EN 60749-20:2010现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 20: Resistance Of Plastic Encapsulated Smds To The Combined Effect Of Moisture And Soldering Heat
出版：Osterreichisches Normungsinstitut
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基本信息
标准编号： OVE/ONORM EN 60749-20:2010
发布时间：2010/5/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Osterreichisches Normungsinstitut
标准页数：28
标准简介
2010 [01/05/2010]2004 [01/01/2004]
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
EN 60749-20:2009 - Identical
