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CEI EN 60749-2 : 2004现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 2: LOW AIR PRESSURE

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

标准编号： CEI EN 60749-2 : 2004

发布时间：2004/1/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Comitato Elettrotecnico Italiano

标准页数：14

标准简介

Defines the testing of low air pressure on semiconductor devices.

本标准替代的旧标准

CEI EN 60749 : 2000 AMD 2 2004

等同采用的国际标准

EN 60749-2 : 2002 - Identical

IEC 60749-2 : 1.0 - Identical