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PN EN 60749-20:2005被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 20: Resistance Of Plastic-encapsulated Smds To The Combined Effect Of Moisture And Soldering Heat

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

标准编号： PN EN 60749-20:2005

发布时间：2005/12/30 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Polish Committee for Standardization

标准页数：26

标准简介

2005 [30/12/2005]2004 [15/06/2004]

替代本标准的新标准

PN EN 60749-20:2010

等同采用的国际标准

IEC 60749-20 Ed. 1.0 - Identical

EN 60749-20:2009 - Identical

PN EN 60749-20:2005被替代

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