PN EN 60749-20:2010现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 20: Resistance Of Plastic-Encapsulated Smds To The Combined Effect Of Moisture And Soldering Heat
出版：Polish Committee for Standardization
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基本信息
标准编号： PN EN 60749-20:2010
发布时间：2010/5/20 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Polish Committee for Standardization
标准页数：30
标准简介
2010 [20/05/2010]2005 [30/12/2005]2004 [15/06/2004]
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
EN 60749-20:2009 - Identical
