IEC/PAS 62181 Ed. 1.0被替代
IC latch-up test
出版：International Electrotechnical Committee
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基本信息
标准编号： IEC/PAS 62181 Ed. 1.0
发布时间：2000/7/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：International Electrotechnical Committee
标准页数：19
标准简介
Covers the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits.
替代本标准的新标准
等同采用的国际标准
EIA JESD 78:2006 - Identical
