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CEI EN 60749-5 Ed. 1 (2005)被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

标准编号： CEI EN 60749-5 Ed. 1 (2005)

发布时间：2005/10/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Comitato Elettrotecnico Italiano

标准页数：14

标准简介

1ED 2005 [01/10/2005]

标准备注

Classificazione CEI 47-44 (11/2005) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008)

本标准替代的旧标准

CEI EN 60749:2000

替代本标准的新标准

CEI EN 60749-5 Ed. 2 (2017)

等同采用的国际标准

IEC 60749-5 Ed. 1.0 - Identical

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