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CEI EN 60749-5 Ed. 2 (2017)现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test

出版:Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息
标准编号: CEI EN 60749-5 Ed. 2 (2017)
标准类别:Standard
出版单位:Comitato Elettrotecnico Italiano
标准页数:14
标准简介

2ED 2017 [01/11/2017]1ED 2005 [01/10/2005]

标准备注

Classificazione CEI 47-44 (11/2005) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008) 1ED 2005 Edition is valid until 15-05-2020. (01/2018)

本标准替代的旧标准

CEI EN 60749-5 Ed. 1 (2005)

等同采用的国际标准

EN 60749-5:2017 - Identical