| 标准编号 | 标准名称 | 发布部门 | 发布日期 | 状态 | |
| SJ 2658.7-1986 | 半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法 | 1986-10-01 | 已作废 | ||
| SJ 2658.8-1986 | 半导体红外发光二极管测试方法 法向辐射率的测试方法 | 1986-10-01 | 已作废 | ||
| SJ 2658.9-1986 | 半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法 | 1986-10-01 | 已作废 |
| 标准编号 | 标准名称 | 发布部门 | 发布日期 | 状态 | |
| SJ 2658.7-1986 | 半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法 | 1986-10-01 | 已作废 | ||
| SJ 2658.8-1986 | 半导体红外发光二极管测试方法 法向辐射率的测试方法 | 1986-10-01 | 已作废 | ||
| SJ 2658.9-1986 | 半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法 | 1986-10-01 | 已作废 |
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