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L 电子元器件与信息技术
光电子器件
半导体发光器件
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标准编号
标准名称
发布部门
发布日期
状态
JB/T 10875-2008
发光二极管光学性能测试方法
中华人民共和国国家发..
2008-11-01
废止
SJ 53930/1-2002
半导体光电子器件GR8813型红外发射二极管详细规范
2002-05-01
现行
SJ 2451-1984
磷化镓红色发光二极管
2002-05-01
已作废
SJ 2452-1984
磷化镓黄绿色发光二极管
2002-05-01
已作废
SJ 20644/1-2001
半导体光电子器件 GD3550Y型PIN光电二极管详细规范
中华人民共和国信息产..
2002-01-01
现行
SJ 20644/2-2001
半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范
中华人民共和国信息产..
2002-01-01
现行
SJ 2685-1986
圆形橙红色半导体发光二极管
1993-07-01
已作废
SJ 2686-1986
圆形黄色半导体发光二极管
1993-07-01
已作废
GB 9492-1988
电子器件详细规范 FG341052、FG343053型半导体绿色发光二极管
1988-12-01
已作废
GB 9493-1988
电子器件详细规范 FG313052、FG314053、FG313054、FG314055型半导体红色发光二极管
1988-12-01
已作废
SJ 2658.1-1986
半导体红外发光二极管测试方法 总则
1986-10-01
已作废
SJ 2658.10-1986
半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法
1986-10-01
已作废
SJ 2658.11-1986
半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法
1986-10-01
已作废
SJ 2658.12-1986
半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法
1986-10-01
已作废
SJ 2658.13-1986
半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测量方法
1986-10-01
已作废
SJ 2658.2-1986
半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法
1986-10-01
已作废
SJ 2658.3-1986
半导休红外发光二极管测试方法 反向电压的测试方法
1986-10-01
已作废
SJ 2658.4-1986
半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法
1986-10-01
已作废
SJ 2658.5-1986
半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法
1986-10-01
已作废
SJ 2658.6-1986
半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率的测试方法
1986-10-01
已作废
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