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标准编号 标准名称 发布部门 发布日期 状态
JB/T 10875-2008 发光二极管光学性能测试方法 中华人民共和国国家发.. 2008-11-01 废止
SJ 53930/1-2002 半导体光电子器件GR8813型红外发射二极管详细规范 2002-05-01 现行
SJ 2451-1984 磷化镓红色发光二极管 2002-05-01 已作废
SJ 2452-1984 磷化镓黄绿色发光二极管 2002-05-01 已作废
SJ 20644/1-2001 半导体光电子器件 GD3550Y型PIN光电二极管详细规范 中华人民共和国信息产.. 2002-01-01 现行
SJ 20644/2-2001 半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范 中华人民共和国信息产.. 2002-01-01 现行
SJ 2685-1986 圆形橙红色半导体发光二极管 1993-07-01 已作废
SJ 2686-1986 圆形黄色半导体发光二极管 1993-07-01 已作废
GB 9492-1988 电子器件详细规范 FG341052、FG343053型半导体绿色发光二极管 1988-12-01 已作废
GB 9493-1988 电子器件详细规范 FG313052、FG314053、FG313054、FG314055型半导体红色发光二极管 1988-12-01 已作废
SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法 总则 1986-10-01 已作废
SJ 2658.10-1986 半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法 1986-10-01 已作废
SJ 2658.11-1986 半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法 1986-10-01 已作废
SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法 1986-10-01 已作废
SJ 2658.13-1986 半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测量方法 1986-10-01 已作废
SJ 2658.2-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法 1986-10-01 已作废
SJ 2658.3-1986 半导休红外发光二极管测试方法 反向电压的测试方法 1986-10-01 已作废
SJ 2658.4-1986 半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法 1986-10-01 已作废
SJ 2658.5-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法 1986-10-01 已作废
SJ 2658.6-1986 半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率的测试方法 1986-10-01 已作废
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