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[SJ/T 10737-1996] 半导体集成电路 ECL电路测试方法的基本原理[现行]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10738-1996] 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10739-1996] 半导体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10740-1996] 半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10741-1996] 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理[已作废]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10746-1996] 半导体集成电路新产品定型鉴定的程序规则[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10783-1996] 电子器件详细规范 半导体集成电路CD7176CP伴音中频放大电路(可供认证用)[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10784-1996] 电子器件详细规范 半导体集成电路CD7609CP行、场扫描电路(可供认证用)[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10800-1996] 半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10801-1996] 半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10802-1996] 半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10803-1996] 半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10804-1996] 半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理[已作废]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10805-1996] 半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理[已作废]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10806-1996] 半导体集成接口电路显示驱动器测试方法的基本原理[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10808-1996] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1000型TTL四2输入与非门(可供认证用)[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10815-1996] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1030型TTL8输入与非门(可供认证用)[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10816-1996] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1040型TTL双4输入与非缓冲器(可供认证用)[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10817-1996] 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1054型TTL4路2-2-2-2输入与或非门(可供认证用)[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

[SJ/T 10818-1996] 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理[已废止]

发布时间:1996-11-20 实施时间:1997-01-01

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