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半导体集成电路ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理已废止

Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for CMOS circuits

标准号：SJ/T 10741-2000

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基本信息

标准号：SJ/T 10741-2000

发布时间：2000-12-28

实施时间：2001-03-01

首发日期：

出版单位：电子工业出版社查看详情>

起草人：李燕荣、孙人杰

作废日期：2011-08-15

出版机构：电子工业出版社

标准分类：微电路综合

ICS分类：集成电路、微电子学

提出单位：中华人民共和国信息产业部

起草单位：中国电子技术标准化研究所

归口单位：中国电子技术标准化研究所

发布部门：中华人民共和国信息产业部

标准简介

本规范规定了半导体集成电路CMOS电路（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。本规范适用于半导体集成电路集成电路CMOS电路电特性的测试。

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