银和银合金镀覆层厚度测量方法Ｘ射线荧光光谱法现行

Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness-Method by the X-ray fluorescent spectromentry

标准号：SJ 20147.1-1992

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基本信息

标准号：SJ 20147.1-1992

发布时间：1992-11-19

实施时间：1993-05-01

首发日期：

出版单位：电子工业出版社查看详情>

起草人：全庆霄、赵长春、顺兴生等

出版机构：电子工业出版社

标准分类：技术管理

提出单位：中国电子工业总公司科技质量局

起草单位：中国华晶电子集团公司等单位

归口单位：中国电子技术标准化研究所

发布部门：中国电子工业总公司

标准简介

本标准规定了用x射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是’一种非接触式的无损测量方法。本标准适用于银和银合金镀覆层厚度的测量，也适用于常用金属镀覆层厚度的测量。该方法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度。

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