石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算 现行
Measurement of quartz crystal unit parameters Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fl, load resonance resistance Rl and the calculation of other derived v
标准号：SJ/T 11210-1999
基本信息
标准号：SJ/T 11210-1999
发布时间：1999-08-26
实施时间：1999-12-01
首发日期：
出版单位：电子工业出版社查看详情>
起草人：章怡、宋佩钰、邓鹤松、边一林
出版机构：电子工业出版社
标准分类： 石英晶体、压电元件
起草单位：国营北京晨星无线电器材厂
归口单位：电子工业部标准化研究所
发布部门：中华人民共和国信息产业部
标准简介
本标准规定了颇率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的简单测量方法。从这两项测量可计算出由IEC 122一1修改1中定义的负载谐振颇率偏置，频率牵引范围△几:、和牵引灵敏度So
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