欢迎来到寰标网！客服QQ：772084082 加入会员

[个人会员] 登录/ 注册我的订单2 购物车我的收藏标准服务

当前位置： 首页 > 光纤系统用半导体光电子器件第2部分：测量方法

光纤系统用半导体光电子器件第2部分：测量方法现行

标准号：SJ/T 11405-2009

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

基本信息

标准号：SJ/T 11405-2009

发布时间：2009-11-17

实施时间：2010-01-01

首发日期：

出版单位：电子工业出版社查看详情>

起草人：

出版机构：电子工业出版社

发布部门：中华人民共和国工业和信息化部

标准简介

主要规定了光发射器件的辐射功率、正向电流、开关时间等电参数和光电参数的测量方法，以及光电探测器件的噪声、开关时间、响应度等电参数和光电参数的测量方法。

替代情况

会员注册/登录后查看详情

引用标准

会员注册/登录后查看详情

本标准相关公告

会员注册/登录后查看详情

采标情况

会员注册/登录后查看详情

推荐检测机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐认证机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐培训机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~