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BS PD IEC TS 61967-3 : 2014现行

INTEGRATED CIRCUITS - MEASUREMENT OF ELECTROMAGNETIC EMISSIONS - PART 3: MEASUREMENT OF RADIATED EMISSIONS - SURFACE SCAN METHOD

出版：British Standards Institution

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基本信息

标准编号： BS PD IEC TS 61967-3 : 2014

标准类别：Standard

出版单位：British Standards Institution

标准页数：0

标准简介

Gives a test procedure which defines an evaluation method for the near electric, magnetic or electromagnetic field components at or near the surface of an integrated circuit (IC).

本标准替代的旧标准

DD IEC TS 61967-3 : DRAFT JAN 2006

等同采用的国际标准

IEC TS 61967-3 : 2.0 - Identical

BS PD IEC TS 61967-3 : 2014现行

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