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OVE/ONORM EN 60749:2000现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods

出版：Osterreichisches Normungsinstitut

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基本信息

标准编号： OVE/ONORM EN 60749:2000

发布时间：2000/5/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Osterreichisches Normungsinstitut

标准页数：133

标准简介

2000 AMD 2 2002 [01/11/2002]2000 AMD 1 2001 [01/11/2001]2000 [01/05/2000]

等同采用的国际标准

IEC 60749 Ed. 2.2 - Identical

EN 60749:1999 - Identical