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PN EN 60749-6:2004被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 6: Storage At High Temperature

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

标准编号： PN EN 60749-6:2004

发布时间：2004/8/23 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Polish Committee for Standardization

标准页数：7

标准简介

2004 [23/08/2004]2003 [15/10/2003]

替代本标准的新标准

PN EN 60749-6:2017

等同采用的国际标准

IEC 60749-6 Ed. 1.0 - Identical

EN 60749-6:2017 - Identical