SAC GB/T 4937-4 : 2012现行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 4: DAMP HEAT, STEADY STATE, HIGHLY ACCELERATED STRESS TEST (HAST)
出版：Standardization Administration of China
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基本信息
标准编号： SAC GB/T 4937-4 : 2012
标准类别：Standard
出版单位：Standardization Administration of China
标准页数：0
等同采用的国际标准
IEC 60749-4 : 2.0 - Identical
