当前位置： 首页 > 标准详情页

IEC 60749-6 Ed. 2.0现行

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 6: Storage at high temperature

出版：International Electrotechnical Committee

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

专家解读视频

基本信息

标准编号： IEC 60749-6 Ed. 2.0

发布时间：2017/3/3 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：International Electrotechnical Committee

标准页数：12

标准简介

Aims to test and determine the effect on all solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied.

本标准替代的旧标准

IEC 60749-6 Ed. 1.0

申请获取原文权限