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PN EN 60749-5:2017现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

标准编号： PN EN 60749-5:2017

标准类别：Standard

出版单位：Polish Committee for Standardization

标准页数：20

标准简介

2017 [26/10/2017]2005 [30/08/2005]2003 [15/12/2003]

本标准替代的旧标准

PN EN 60749-5:2005

等同采用的国际标准

EN 60749-5:2017 - Identical

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