DIN EN 60749-28:2018现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 28: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Charged Device Model (Cdm) - Device Level (Iec 60749-28:2017)
出版：Verband Deutscher Elektrotechniker
专家解读视频
基本信息
标准编号： DIN EN 60749-28:2018
标准类别：Standard
出版单位：Verband Deutscher Elektrotechniker
标准页数：46
标准简介
2018 [01/02/2018]DRAFT 2012 [01/07/2012]
等同采用的国际标准
EN 60749-28:2017 - Identical
