DS EN 60749-5:2003被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test
出版：Danish Standards
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基本信息
标准编号： DS EN 60749-5:2003
发布时间：2003/8/11 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Danish Standards
标准页数：16
标准简介
Specifies a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.
替代本标准的新标准
等同采用的国际标准
EN 60749-5:2017 - Identical
