DS EN 60749-5:2017现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test
出版：Danish Standards
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基本信息
标准编号： DS EN 60749-5:2017
标准类别：Standard
出版单位：Danish Standards
标准页数：15
标准简介
2017 [11/07/2017]2003 [11/08/2003]
标准备注
2003 Edition is still active and will be withdrawn on 15/05/2020. (07/2017)
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
EN 60749-5:2017 - Identical
IEC 60749-5 : 2.0 - Identical
EN 60749-5 : 2017 - Identical
IEC 60749-5 : 2.0 - Identical
