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CEI EN 60749-43 : 1ED 2018现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 43: GUIDELINES FOR IC RELIABILITY QUALIFICATION PLANS

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

标准编号： CEI EN 60749-43 : 1ED 2018

标准类别：Standard

出版单位：Comitato Elettrotecnico Italiano

标准页数：0

标准简介

Provides guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products (ICs).

等同采用的国际标准

IEC 60749-43 : 1ED 2017 - Identical

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