IEC 60749-43 : 1ED 2017现行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 43: GUIDELINES FOR IC RELIABILITY QUALIFICATION PLANS
出版：International Electrotechnical Committee
专家解读视频
Provides guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products (ICs).
NEN EN IEC 60749-43 : 2017 - Identical
EN 60749-43 : 2017 - Identical
DS EN 60749-43 : 2017 - Identical
BS EN 60749-43 : 2017 - Identical
NF EN 60749-43 : 2017 - Identical
SN EN 60749-43 : 2017 - Identical
BS EN 60749-43 : 2017 - Identical
PN EN 60749-43 : 2018 - Identical
DS EN 60749-43 : 2017 - Identical
NEN EN IEC 60749-43 : 2017 - Identical
NF EN 60749-43 : 2017 - Identical
EN 60749-43 : 2017 - Identical
CEI EN 60749-43 : 1ED 2018 - Identical
