OVE/ONORM EN 62373:2007现行
Bias-temperature Stability Test For Metal-oxide, Semiconductor, Field-effect Transistors (mosfet)
出版：Osterreichisches Normungsinstitut
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基本信息
标准编号： OVE/ONORM EN 62373:2007
发布时间：2007/3/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Osterreichisches Normungsinstitut
标准页数：14
标准简介
2007 [01/03/2007]
等同采用的国际标准
IEC 62373 Ed. 1.0 - Identical
