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DIN IEC 60749-35 (2004-12)被替代

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 35: Acoustic microscopy for non-hermetic encapsulated electronic components (IEC 47/1769/CD:2004)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

标准编号： DIN IEC 60749-35 (2004-12)

发布时间：2004/12/1 0:00:00

标准类别：Draft

出版单位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

标准页数：0

标准简介

DRAFT 2004 [01/12/2004]

替代本标准的新标准

DIN EN 60749-35 (2007-03)

DIN IEC 60749-35 (2004-12)被替代

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