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OVE/ONORM EN 60749-9:2003被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 9: Permanence Of Marking

出版：Osterreichisches Normungsinstitut

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基本信息

标准编号： OVE/ONORM EN 60749-9:2003

发布时间：2003/10/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Osterreichisches Normungsinstitut

标准页数：8

标准简介

2003 [01/10/2003]

等同采用的国际标准

EN 60749-9:2017 - Identical

EN 60749-9:2002 - Identical

IEC 60749-9 Ed. 1.0 - Identical