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EIA JESD 435:1976 (R2009)现行

Standard For The Measurement Of Small-Signal Transistor Scattering Parameters

出版：JEDEC Solid State Technology Association

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基本信息

标准编号： EIA JESD 435:1976 (R2009)

发布时间：2009/3/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：JEDEC Solid State Technology Association

标准页数：29

标准简介

Describes measurement of small-signal transistor scattering parameters.

标准备注

Renamed from EIA 435. (07/2010)

本标准替代的旧标准

EIA 435:1976 (R1999)

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