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EIA 435:1976 (R1999)被替代

Standard For The Measurement Of Small-signal Transistor Scattering Parameters

出版：Joint Electronics Device Engineering Council (JEDEC)

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基本信息

标准编号： EIA 435:1976 (R1999)

发布时间：1976/4/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Joint Electronics Device Engineering Council (JEDEC)

标准页数：0

标准简介

Specifies the standard for the measurement of the above.

替代本标准的新标准

EIA JESD 435:1976 (R2009)

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