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OVE EN IEC 63287-1:2023 10 01现行

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines -- Part 1: Guidelines for IC reliability qualification

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基本信息

标准编号： OVE EN IEC 63287-1:2023 10 01

标准类别：Standard

出版单位：

标准页数：0

标准简介

This part of IEC 63287 provides guidance for qualification plans for the reliability of semiconductor integrated IC products.

本标准替代的旧标准

OVE EN 60749-43:2020 01 01

等同采用的国际标准

EN IEC 63287-1:2021 - Identical

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