
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 14: Robustness Of Terminations (lead Integrity)
出版:Osterreichisches Normungsinstitut

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基本信息
标准编号: OVE/ONORM EN 60749-14:2004
发布时间:2004/8/1 0:00:00
标准类别:Standard
出版单位:Osterreichisches Normungsinstitut
标准页数:19
标准简介
2004 [01/08/2004]
等同采用的国际标准
EN 60749-14:2003 - Identical