Ic Latch-Up Test
出版:Joint Electronics Device Engineering Council (JEDEC)
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E2016 [01/04/2016]D2011 [01/11/2011]C2010 [01/09/2010]B2008 [01/12/2008]A2006 [01/02/2006]1997 [01/03/1997]
Supersedes EIA JESD 17 (06/2001)
EIA JESD 78:2011
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