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11/30252690 DC : 0被替代

BS EN 60749-27 ED.2: AMENDMENT 1 - SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 27: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING 1 MACHINE MODEL (MM)

出版：British Standards Institution

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基本信息

标准编号： 11/30252690 DC : 0

标准类别：Draft

出版单位：British Standards Institution

标准页数：5

标准简介

BS EN 60749-27 ED.2: AMENDMENT 1

替代本标准的新标准

BS EN 60749-27 : 2006

11/30252690 DC : 0被替代

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