欢迎来到寰标网！客服QQ：772084082 加入会员

[个人会员] 登录/ 注册我的订单2 购物车我的收藏标准服务

当前位置： 首页 > 标准详情页

PN EN 60749-14:2005现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 14: Robustness Of Terminations (lead Integrity)

出版：Polish Committee for Standardization

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

专家解读视频

基本信息

标准编号： PN EN 60749-14:2005

发布时间：2005/11/18 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Polish Committee for Standardization

标准页数：16

标准简介

2005 [18/11/2005]2004 [15/06/2004]

等同采用的国际标准

EN 60749-14:2003 - Identical

IEC 60749-14 Ed. 1.0 - Identical