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IEC 60749-21 : 2.0现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 21: SOLDERABILITY

出版:International Electrotechnical Committee

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基本信息
标准编号: IEC 60749-21 : 2.0
发布时间:2011/4/7 0:00:00
标准类别:Standard
出版单位:International Electrotechnical Committee
标准页数:48
标准简介

Covers a standard procedure for determining the solderability of device package terminations that are intended to be joined to another surface using tin-lead (SnPb) or lead-free (Pb-free) solder for the attachment.

本标准替代的旧标准

IEC PAS 62173 : 1.0

等同采用的国际标准

NEN EN IEC 60749-21 : 2011 - Identical

DIN EN 60749-21 : 2012 - Identical

BS EN 60749-21 : 2011 - Identical

PN EN 60749-21 : 2011 - Identical

CEI EN 60749-21 : 2012 - Identical

I.S. EN 60749-21:2011 - Identical

DS EN 60749-21 : 2011 - Identical