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IEC 60749-9 : 1.0已作废

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 9: PERMANENCE OF MARKING

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息

标准编号： IEC 60749-9 : 1.0

发布时间：2002/4/12 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：International Electrotechnical Committee

标准页数：19

替代本标准的新标准

IEC 60749-9 ED 2 : 2017