PN EN 60749-2:2004现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 2: Low Air Pressure
出版：Polish Committee for Standardization
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基本信息
标准编号： PN EN 60749-2:2004
发布时间：2004/8/26 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Polish Committee for Standardization
标准页数：8
标准简介
2004 [26/08/2004]2003 [15/08/2003]
等同采用的国际标准
IEC 60749-2 Ed. 1.0 - Identical
