
DISPOSITIFS A SEMICONDUCTEURS - METHODES D'ESSAI MECANIQUES ET CLIMATIQUES - PARTIE 28: ESSAI DE SENSIBILITE AUX DECHARGES ELECTROSTATIQUES (DES) - MODELE DE DISPOSITIF CHARGE PAR CONTACT DIRECT (DC-CDM)
出版:Association Francaise de Normalisation

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基本信息
标准编号: NF EN 60749-28 : 2013 PR
标准类别:Projet
出版单位:Association Francaise de Normalisation
标准页数:0
等同采用的国际标准
IEC 60749-28 : 1ED 2017 - Identical