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NEN EN IEC 60749-14:2003现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 14: Robustness Of Terminations (Lead Integrity)

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息

标准编号： NEN EN IEC 60749-14:2003

发布时间：2003/11/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Nederlands Normalisatie Instituut

标准页数：27

标准简介

2003 [01/11/2003]

等同采用的国际标准

EN 60749-14:2003 - Identical

IEC 60749-14 Ed. 1.0 - Identical