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NEN NPR IEC/TS 62396-2:2008被替代

Process Management For Avionics - Atmospheric Radiation Effects - Part 2: Guidelines For Single Event Effects Testing For Avionics Systems

出版:Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息
标准编号: NEN NPR IEC/TS 62396-2:2008
发布时间:2008/9/1 0:00:00
标准类别:Standard
出版单位:Nederlands Normalisatie Instituut
标准页数:27
标准简介

Gives guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons.

标准备注

Supersedes NEN NPR IEC/PAS 62396-2. (09/2008)

本标准替代的旧标准

NEN NPR IEC/PAS 62396-2:2007

替代本标准的新标准

NEN IEC 62396-2:2012

等同采用的国际标准

IEC/TS 62396-2 Ed. 1.0 - Identical