NEN EN IEC 60749-20:2009现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 20: Resistance Of Plastic Encapsulated Smds To The Combined Effect Of Moisture And Soldering Heat
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
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基本信息
标准编号： NEN EN IEC 60749-20:2009
发布时间：2009/12/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Nederlands Normalisatie Instituut
标准页数：30
标准简介
2009 [01/12/2009]2003 [01/08/2003]
本标准替代的旧标准
等同采用的国际标准
EN 60749-20:2009 - Identical
