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CEI EN 60749-9 Ed. 1 (2004)被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 9: Permanence Of Marking

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

标准编号： CEI EN 60749-9 Ed. 1 (2004)

发布时间：2004/3/1 0:00:00

标准类别：Standard

出版单位：Comitato Elettrotecnico Italiano

标准页数：12

标准简介

1ED 2004 [01/03/2004]

标准备注

Classificazione CEI 47-19 (04/2004) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008)

本标准替代的旧标准

CEI EN 60749:2000

替代本标准的新标准

CEI EN 60749-9 Ed. 2 (2017)

等同采用的国际标准

IEC 60749-9 Ed. 1.0 - Identical

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