NEN EN IEC 60749-5:2003被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 5: Steady-state Temperature Humidity Bias Life Test
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
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基本信息
标准编号： NEN EN IEC 60749-5:2003
发布时间：2003/7/1 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Nederlands Normalisatie Instituut
标准页数：13
标准简介
Provides a steady-state temperature and humidity bias life for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.
替代本标准的新标准
