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BS EN 60749-43:2017现行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 43: Guidelines For Ic Reliability Qualification Plans (Iec 60749-43:2017)

出版:British Standards Institution

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基本信息
标准编号: BS EN 60749-43:2017
标准类别:Standard
出版单位:British Standards Institution
标准页数:0
标准简介

2017 [30/09/2017]

标准备注

Supersedes 15/30269562 DC. (10/2017)

本标准替代的旧标准

15/30269562 DC

15/30269562 DC : 0

等同采用的国际标准

EN 60749-43:2017 - Identical

IEC 60749-43 : 1ED 2017 - Identical

EN 60749-43 : 2017 - Identical

IEC 60749-43 : 1ED 2017 - Identical

EN 60749-43 : 2017 - Identical