Highly Accelerated Temperature And Humidity Stress Test (hast)
出版:JEDEC Solid State Technology Association
专家解读视频
Describes the reliability of nonhermetic packaged solid state devices in humid environments.
Supersedes EIA JESD 22 (07/2004)
EIA JESD 22:1987
EIA JESD 22-A110:1999
EIA JESD 22-A110:2010
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