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IEC 60749-24 : 1.0现行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 24: ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED HAST

出版:International Electrotechnical Committee

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基本信息
标准编号: IEC 60749-24 : 1.0
发布时间:2004/3/9 0:00:00
标准类别:Standard
出版单位:International Electrotechnical Committee
标准页数:14
标准简介

Specifies the unbiased highly accelerated stress testing (HAST) which is performed for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetically packaged solid-state devices in humid environments.

本标准替代的旧标准

IEC PAS 62336 : 1.0

等同采用的国际标准

DS EN 60749-24 : 2004 - Identical

DIN EN 60749-24 : 2004 - Identical

CEI EN 60749-24 : 2012 - Identical

BS EN 60749-24 : 2004 - Identical

PN EN 60749-24 : 2006 - Identical

NEN EN IEC 60749-24 : 2004 - Identical

I.S. EN 60749-24:2004 - Identical